С 3 по 4 декабря, в Москве, в рамках Девятой международной научно-практической конференции "Образовательные, научные и инженерные приложения в среде LabView и технологии National Instruments - 2010", выступил с докладом на тему "Исследование характеристик и проверка на годность температурных датчиков" доцент каф. РиТК Голых Ю.Г. В соавторстве с доцентом каф. РиТК Соловьюк В.М. и доцентом каф. РиТК Сочневым А.Н.